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OPTM‑A1厂商性质
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Otsuka大塚 OPTM系列分光式非接触膜厚计 日本 Otsuka（大塚）集团旗下涉及半导体业务的主体为大塚电子（Otsuka Electronics） 和大塚化学（Otsuka Chemical），产品聚焦半导体量测设备与电子化学品 / 功能材料两大类，一、大塚电子（Otsuka Electronics）：半导体量测设备 核心产品线：膜厚测量、晶圆几何量测、显微光谱分析、缺陷检测、光学特性评价
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FE-5000厂商性质
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45产品描述
进口Otsuka大塚FE系列高精度自动化膜厚仪 日本 Otsuka（大塚）集团旗下涉及半导体业务的主体为大塚电子（Otsuka Electronics） 和大塚化学（Otsuka Chemical），产品聚焦半导体量测设备与电子化学品 / 功能材料两大类，一、大塚电子（Otsuka Electronics）：半导体量测设备 核心产品线：膜厚测量、晶圆几何量测、显微光谱分析、缺陷检测、光学特性评价。
产品型号
FE-5700厂商性质
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40产品描述
日本进口Otsuka大塚 高精度自动化膜厚仪 日本 Otsuka（大塚）集团旗下涉及半导体业务的主体为大塚电子（Otsuka Electronics） 和大塚化学（Otsuka Chemical），产品聚焦半导体量测设备与电子化学品 / 功能材料两大类，一、大塚电子（Otsuka Electronics）：半导体量测设备 核心产品线：膜厚测量、晶圆几何量测、显微光谱分析、缺陷检测、光学特性评价。
产品型号
FE-5000厂商性质
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27产品描述
进口Otsuka大塚 FE系列高精度自动化膜厚仪 日本 Otsuka（大塚）集团旗下涉及半导体业务的主体为大塚电子（Otsuka Electronics） 和大塚化学（Otsuka Chemical），产品聚焦半导体量测设备与电子化学品 / 功能材料两大类，一、大塚电子（Otsuka Electronics）：半导体量测设备 核心产品线：膜厚测量、晶圆几何量测、显微光谱分析、缺陷检测、光学特性评价
产品型号
FE-3700厂商性质
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55产品描述
日本进口Otsuka大塚高精度自动化膜厚仪 日本 Otsuka（大塚）集团旗下涉及半导体业务的主体为大塚电子（Otsuka Electronics） 和大塚化学（Otsuka Chemical），产品聚焦半导体量测设备与电子化学品 / 功能材料两大类，一、大塚电子（Otsuka Electronics）：半导体量测设备 核心产品线：膜厚测量、晶圆几何量测、显微光谱分析、缺陷检测、光学特性评价。
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